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大気圧プラズマプロセスをベースとした単結晶ダイヤモンド基板の高能率ダメージフリー平坦化·平滑化(第6 報)-ラマン分光法を用いた表面構造の解析によるダイヤモンド除去モデルの提唱

机译:基于大气压等离子体工艺(第6次报告)的单晶金刚石基板的高效损坏平面和平滑,通过使用拉曼光谱分析表面结构进行钻石去除模型

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摘要

単結晶ダイヤモンドは5.4 eVという広いバンドギャップを有し,SiC やGaN に比べて誘電率や絶縁破壊強度をはじめとした電子物性にも優れることから高性能なパワーデバイス用基板としての応用が期待されている.これまで,高品質かつ大口径の単結晶ウエハは作製しにくいことが難点であったが,産業技術総合研究所(産総研)で開発された化学気相合成(Chemical Vapor Deposition: CVD)法をベースとしたダイレクトウェハ化技術とモザイク法により高品質·大口径ウエハの量産化が実現しつつある.CVD 成長後のウエハの表面には大きなうねりが存在し,これをパワーデバイス用基板として用いるためには平滑化が必要である.しかし,ダイヤモンドは物質中最高の硬度を有し化学的にも安定であることから難加工材料である.現在,平滑化手法としてダイヤモンド砥粒を用いたスカイフ研磨法が一般的に用いられているが,硬質なダイヤモンド砥粒を用いているため加工変質層の導入を避けることができず,パワーデバイスとしてのパフォーマンスに悪影響を与える.そこで,スカイフ研磨に代わる新たなダメージフリーかつ高能率な平滑化手法が求められている.この要求に対して,熊本大学の峠らはダイヤモンドの紫外線励起を援用した平滑化手法を提案している.一方我々は,大気圧下でのプラズマ照射による表面改質と軟質砥粒による研磨を組み合わせたプラズマ援用研磨法(Plasma Assisted Polishing: PAP)を提案している.我々はこれまでX 線光電子分光法(X-ray Photoelectron Spectroscopy: XPS)と全反射赤外吸収分光( Fourier Transform Infrared Spectroscopy Attenuated Total Reflection: FTIR-ATR)法を用いてプラズマ照射後の表面終端構造を分析し,ダイヤモンドに対するPAP の研磨モデルの提案をおこなった.本報ではPAP の際に生じる研磨屑及び加工後のダイヤモンドのラマン分光分析の結果からさらなる詳細な研磨モデルを検討した.
机译:单晶金刚石具有的5.4eV的宽的带隙,应用程序作为用于从还具有优异的电子性质使得包括比碳化硅或GaN介电常数和介电击穿强度,预计ING高功率器件的基板。到目前为止,高品质和大直径的单晶晶片难以制备是一个缺点,高级工业科学和技术(AIST)的化学汽相合成,其通过(化学气相沉积开发研究所: CVD)方法基座和晶片直接的技术和大量生产的高品质,由镶嵌法大直径的晶片被实现。 CVD生长后的晶片的表面有一个大的波动,为了用它作为功率器件用基体需要平滑。然而,钻石加工较差的材料,因为它是稳定的化学性质在材料中硬度最高。目前,使用金刚石磨粒作为平滑方法一般是用磨光盘抛光的方法,无法避免引入因为使用硬的金刚石磨粒的加工变质层的,作为功率器件对性能有负面影响。因此,需要新的和高效的无损伤的平滑技术的替代磨光盘抛光。于该请求,熊本大学的Togera提出了一种平滑方法,纳入金刚石的紫外线激发。虽然我们通过与在大气压下通过等离子体照射,软磨粒表面改性抛光等离子体增强抛光方法结合:提出(等离子体辅助抛光PAP)。我们迄今为止X射线光电子能谱法(X射线光电子能谱:XPS)和全反射红外光谱法(傅里叶变换红外光谱衰减全反射:FTIR-ATR)方法表面端接结构与分析,将其进行了等离子体照射后抛光PAP的模式,以钻石的建议。在本文中它被从加工后的抛光碎片和钻石的拉曼光谱分析的结果研究了进一步详述抛光模型发生PAP时。

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