interferometry; metrology; film thickness; thick film; thin film; surface roughness;
机译:相干扫描干涉法测量薄膜界面粗糙度的测量
机译:一种低成本,可靠的光学检测系统,用于快速测量多晶线薄膜的表面粗糙度
机译:快速测量不同厚度的有机硅薄膜的表面粗糙度
机译:使用SWLI测量薄膜和界面表面粗糙度
机译:水源性薄膜及其与半导体表面的界面相互作用:光谱研究
机译:有机 - 液/水界面区域的界面区分区示踪试验测量:适用于土壤和地表粗糙度的影响
机译:相干扫描干涉法测量薄膜界面粗糙度
机译:通过扫描隧道显微镜,位点分辨光电子衍射和自旋偏振光电子衍射研究在W(110)上生长的薄Fe和Gd薄膜的界面和表面性质