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一种超声波同时测量涂覆层厚度与内界面粗糙度的方法

摘要

一种超声波同时测量涂覆层厚度与内界面粗糙度的方法,属于材料超声无损检测与评价技术领域。该发明采用一个包括试样台、内界面粗糙涂覆层试样、延迟块探头、探伤仪、数字示波器以及计算机的超声脉冲回波检测系统,针对无损表征内界面粗糙涂覆层的厚度与粗糙度难题,推导出了内界面粗糙涂覆层结构的声压反射系数幅度谱|r(f;Rq,d)|,对不同频带宽度内理论与实验的声压反射系数幅度谱进行相关性运算,得到每个带宽下相关系数最大值η

著录项

  • 公开/公告号CN104197872B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-05-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 大连理工大学;

    申请/专利号CN201410486349.0

  • 申请日2014-09-21

  • 分类号

  • 代理机构大连星海专利事务所;

  • 代理人花向阳

  • 地址 116024 辽宁省大连市高新园区凌工路2号

  • 入库时间 2022-08-23 09:56:52

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-05-31

    授权

    授权

  • 2015-01-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 17/02 申请日:20140921

    实质审查的生效

  • 2014-12-10

    公开

    公开

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