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机译:一种低成本,可靠的光学检测系统,用于快速测量多晶线薄膜的表面粗糙度
Department of Mechanical Engineering and Graduate Institute of Elec- tro-Mechanical Engineering, Ming Chi University of Technology, No. 84,Gungjuan Road,Taishan Taipei Hsien 243,Taiwan;
Department of Mechanical Engineering and Graduate Institute of Elec- tro-Mechanical Engineering, Ming Chi University of Technology, No. 84,Gungjuan Road,Taishan Taipei Hsien 243,Taiwan;
surface roughness; optical measurement; polycrystalline silicon; excimer laser crystallization;
机译:用于快速测量CrCN硬膜表面粗糙度的低成本光学检测系统
机译:用于快速测量正面和背面准分子激光结晶制造的多晶硅表面粗糙度的低成本光学检测系统
机译:快速光学测量多晶薄膜的表面粗糙度
机译:用于测量硬膜表面粗糙度的快速光学系统
机译:等离子体沉积非晶硅薄膜的表面反应性,粗糙度和结晶度的原子分析。
机译:过去的宝藏VII:通过椭偏仪测量非常薄膜的厚度和折射率以及表面的光学性质
机译:系统提供薄膜厚度和光学常数的快速,低成本测量
机译:低能电子衍射法在过渡金属单晶表面生长的结晶离子薄膜的表面结构测定