silicon; fatigue; MEMS; reaction-layer fatigue;
机译:微米级多晶硅薄膜中的超高周疲劳失效:环境和表面氧化物厚度的影响
机译:薄膜多晶硅的疲劳失效是由于氧化物层内的亚临界裂纹
机译:具有源/漏连接和附加多晶硅主体的多晶硅薄膜晶体管中的块状氧化物结构,用于模拟应用
机译:具有薄表面氧化物的多晶硅薄膜的疲劳
机译:多晶硅锗薄膜在金属氧化物半导体技术中的应用。
机译:使用H2烧结改善低温多晶硅薄膜晶体管传感器的pH敏感性
机译:微米级多晶硅薄膜的极高循环疲劳破坏:环境和表面氧化物厚度的影响
机译:冶金硅衬底上的硅薄膜 - 阶段II。专题报告第3号。薄膜多晶硅太阳能电池的稳定性