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Test structure for I/sub C/(V/sub BE/) parameter determination of low voltage applications

机译：用于I / SUB C /（V / SUB为/）参数测定低压应用的测试结构

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来源
《Design, Automationj and Test in Europe Conference and Exhibition》|2002年||共6页
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作者
Rahajandraibe W.; Dufaza C.; Auvergne D.; Institute of Electric and Electronic Engineer;
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作者单位

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正文语种
中图分类自动化技术、计算机技术;
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