ケミカルハイドライド法水素貯蔵における低品位水素の利用（7）～CO存在下ナフタレン水素化反応における担持Pd触媒の担体効果～

摘要

ケミカルハイドライド法による水素貯蔵に、低品位水素（製鉄·石油精製過程等で発生する不純物を含hだ水素）を用いることができれば、水素の貯蔵·精製を同時に行うことが可能となる。我々は、低品位水素中の不純物の中でも金属活性点と強く吸着し触媒毒となる一酸化炭素（CO）の存在下で、高活性を示す触媒の開発を目的としている。前報では、CO存在下での芳香族炭化水素の水素化反応において、Al2O3担体による種々の担持金属触媒間での比較が検討され、担持Pd触媒がCO－Metal結合が弱くCO存在下で高活性であることを報告した。今回は、このPd触媒をベースに、CO存在下ナフタレン水素化反応でのSiO2－Al2O3系担体における担体の影響について報告する。