机译:熔融织构YBCO中表面柱状缺陷与固有缺陷之间的相关性和竞争性
机译:柱状缺陷尺寸在YBCO薄膜角相关通量钉扎特性中的作用
机译:YBCO薄膜中沿三个方向分散的柱状缺陷导致的高通量钉扎效率
机译:退火时ybco柱状缺陷形态的异常变化
机译:通过控制退火实验研究异质外延Si(1-x)Ge(x)薄膜的形态不稳定性和缺陷形成
机译:退火引起的升华生长立方碳化硅点缺陷性质的变化
机译:YBCO薄膜中多角度柱状缺陷对临界电流密度和n值的影响
机译:YBCO中与柱状缺陷相关的氧紊乱和纳米双微观结构的测量