porous silicon; ellipsometry; reflectometry; SIMS;
机译:多孔硅氧化锡纳米复合层的椭圆偏振光谱研究
机译:椭圆偏振光谱和傅立叶变换红外光谱法表征氢化非晶硅薄层中的微孔
机译:实时椭圆偏振光谱和红外光谱研究a-Si:H薄膜生长中的界面层形成机理
机译:反射测缝,光谱椭圆形和二次离子质谱法研究薄多孔硅层氧化的比较研究
机译:光谱反射法和椭圆偏振法测定固体薄膜的光学性能
机译:使用固态NMR光谱比较氧化硅和氧化钛共沉淀物中R5肽的二级结构和相互作用的比较
机译:椭圆偏振光谱法研究掺Er纳米晶硅薄膜的层结构和杂质含量
机译:光谱椭偏仪和干涉反射测量在氧化硅上生长的CVD硅