automatic test pattern generation; fault simulation; formal verification; integrated circuit testing; automatic test pattern generation; coverage metrics; descriptions validation; digital systems; formal properties; functional ATPG; high-level fault model; model ch;
机译:基于SAT的ATPG的高效数据结构和方法,可在工业应用中提供较高的故障覆盖率
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机译:基于LsI / VLsI的故障覆盖测量系统功能测试