Crystal structure; Growth from melt; Compound semiconductor; Detached growth; InSb:Te properties;
机译:分离现象:其对通过VDS技术生长的Ga_(1_x)In_xSb块状晶体的晶体质量的影响
机译:VDS分离的基于Sib的晶体生长:INSB VDS衬底上的Scotty和Moss器件的制造和表征工作于300k
机译:通过垂直方向凝固(VDS)表征以不同生长速率生长的InSbBi块状晶体
机译:脱离现象:其对INSB晶体质量的影响:由VDS技术增长
机译:在4H-碳化硅PVT生长的块状晶体,CVD生长的外延层和器件中的缺陷研究。
机译:HVPE生长的GaN晶体中的应力对MOCVD-GaN / 6H-SiC衬底的影响
机译:通过HW-CVD和VHF-PECVD技术生长的微晶硅薄膜的少数载流子特性
机译:使用四乙基锡通过mOCVD生长的Insb的锡掺杂。