Absolute interferometrische Messung von Distanzen bis 20 m: Baustein fur neue Konzepte in der Fertigungsmesstechnik

摘要

Weiter steigende Genauigkeitsanforderungen stellen immer grossere Anforderungen an die Stabilitat von mechanischen Strukturen. Mit der Absolut Multiline Technologie ist nun ein System verfugbar, mit dem sich geometrische Veranderungen im Mikrometer-Bereich auch uber Monate und Jahre absolut messen lassen. Im Folgenden wird die Aufgabenstellung naher erlautert, die optische Funktionsweise des Systems beschrieben und seine Eigenschaften vorgestellt. Anschliessend werden exemplarisch einige technische Anwendungen vorgestellt.