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机译:PBGA封装在循环弯曲载荷下的无铅焊点可靠性和失效分析
机译:电子包装中不同基板上的Sn-Ag-Cu无铅焊点的界面反应和金属间化合物生长行为
机译:电迁移对PBGA封装中Sn-3.0Ag-0.5Cu焊点掉落类型的影响
机译:316 I / O PBGA封装的无铅Sn-Ag-Cu焊点的失效分析
机译:无铅锡-银-铜焊点在循环中的变形机理
机译:在Sn-Ag-Cu和Sn-Bi焊点中添加环氧聚合物的影响
机译:建立对BGA封装中无铅焊点的影响力的估计方法(1)抗衰式焊接损失模式的依赖性损失载荷株的依赖性损失载荷株对PWB菌株的影响