3D IC integration; through silicon via (TSV); interposer; microbumps; assembly;
机译:300毫米多项目晶圆(MPW)的3D IC集成封装系统(SiP)的可行性研究
机译:一种新型的中介层的制造和电学特性,该中介层具有用于2.5D / 3D应用的具有超低电阻率的直通硅通孔(TSV)的聚合物衬里和硅柱
机译:基于硅中介层(TSI)和无硅互连技术(SLIT)的3D IC封装可靠性研究
机译:大型硅中介层和3D IC集成,用于系统级封装(SiP)
机译:硅通孔底部填充点胶,用于3D模具/中介层堆叠
机译:使用使用AuPdPtCu和IR和IR和IR的MACE方法自对准高纵横比硅3D结构的晶圆级集成
机译:3D微波模块硅中间体电容器特性研究