机译:通过透射电子显微镜和三轴X射线衍射测定的外延GaN膜的缺陷结构
机译:La2-xSrxCuO4薄膜中生长缺陷的透射电子显微镜和高分辨率电子显微镜
机译:扫描透射电子显微镜和电子束感应电流分析GaN基发光二极管中的V缺陷
机译:MG相关缺陷形成在Movpe基于GaN的薄膜研究中的透射电子研究
机译:透射电子显微镜探索GaN的电子器件的物理缺陷和降解机制
机译:阴极发光和截面透射电镜研究Berkovich纳米压痕下GaN薄膜的形变行为
机译:阴极发光和截面透射电子显微镜研究Berkovich纳米压痕作用下GaN薄膜的形变行为
机译:两步横向外延过度生长的非平面GaN衬底模板中缺陷减少的透射电子显微镜研究