机译:无铅Sn–3.8Ag–0.7Cu和共晶SnPb焊料球栅阵列(BGA)封装跌落冲击测试后的失效形态
机译:含铜芯焊球的球栅阵列焊点的界面反应和力学性能
机译:列栅阵列(CGA)与球栅阵列(BGA):板级跌落测试和焊料中的预期动态应力
机译:带有铜芯焊球的球栅阵列(BGA)封装
机译:用共晶铅锡和无铅焊料对塑料球栅阵列,芯片规模和倒装芯片封装的焊球剪切强度进行调查和分析。
机译:类似于球栅阵列的64针纳米线表面紧固件用于室温电连接
机译:在Sn-3.8Ag-0.7Cu和Sn-20英寸-2Ag-0.5Cu焊球栅格的回流和老化期间形成的金属间化合物在SN-3.8AG-0.7CU和SN-20IN-2AG-0.5CU焊球栅格阵列套件