机译:多晶硅缓冲层对带有SiN封盖的应变n沟道金属氧化物半导体场效应晶体管的性能和可靠性的影响
机译:应力技术对<100>低于90nm的绝缘体上硅互补金属氧化物半导体场效应晶体管的器件性能和可靠性的影响
机译:FINFET技术栅极氧化物完整性与晶体管性能之间的折衷
机译:FinFET中的残余EG氧化物分析及其对产量,产品性能和晶体管可靠性的影响
机译:薄膜晶体管应用的多晶硅/电介质/衬底材料系统:材料特性对晶体管性能和可靠性的影响。
机译:CF4等离子体处理HfO2栅电介质的非晶铟镓锌氧化物薄膜晶体管的电性能和可靠性提高
机译:晶体管老化对28nm射频低噪声放大器性能的影响:可靠性评估