机译:全差分CMOS OTA的仿真和测量
机译:可测试性设计技术,用于检测CMOS / BiCMOS逻辑系列中的延迟故障
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机译:高频全差分CMOS OTA的测试板设计和测量技术
机译:CMOS中电气和生物学特性的先进高频测量技术
机译:用于CMOS工艺层厚度的后加工测量的电物理技术
机译:低温测量的实验技术:低温测量的低温设计,材料性能和超导体临界电流测试实验技术,用于低温测量:低温恒温器设计,材料特性和超导体临界电流测试,杰克W. ekin,牛津U.按,纽约,2006年。$ 125.00(673 pp)。 ISBN 978-0-19-857054-7
机译:NIsT特别出版物400-93的颜色补充:半导体测量技术:CmOs和横向双极性sOI测试库的设计和测试指南