光コムによる全光ヒルベルト変換のためのスペクトル干渉縞検出を用いたパルス位相差安定化法

摘要

光を用いた3次元形状計測は、高速・高精度に非接触・非破壊な測定が可能なため、幅広い応用分野で需要がある。我々は、独自に開発したチャープした超短パルスを用いた時間・空間・周波数の多次元情報の超高速変換手法[1]を、制御性とコヒーレンスの優れたファイバレーザーによる光コムに適用し、スペクトル干渉を用いて高精度・広範囲・高速測定、およびsub-µmの不確かさが可能な3次元形状計測法を開発した[2, 3]。さらに、全光ヒルベルト変換による瞬時高解像度2次元分光法を新たに開発し、カメラ解像度のシングルパルス3次元形状計測手法を実現した[4]。