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【24h】

マグネトロンスパッタ法によるAZO 薄膜へのZn 添加方法の検討

机译:磁控溅射法检查AZO薄膜中Zn的添加方法

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摘要

Ⅲ族元素をドープしたZnO 薄膜は,低抵抗の膜となることから,ITO 薄膜に代わる透明導電膜用材料として注目されている。そこで本研究室ではこれまで,ZnO に数wt.%のAl を添加したAZO 焼結体ターゲットを用い,スパッタ法により作製される,AZO 薄膜の検討を行ってきた。しかし,7×10~(-4) ・cm より小さい抵抗率のAZO 薄膜を得ることができなかった。一方,ZnO 材料のみの膜においても,低抵抗の膜が得られることから,ZnO 系薄膜の導電特性は,酸素空孔によるキャリア主導であると考えられる。このことから,通常のAZO 焼結体ターゲットにより作製される膜より,Zn が多く含まれる膜が作製できれば,5×10~(-4)・cm 以下のAZO薄膜を得ることができると考えられる。
机译:掺杂有第三族元素的ZnO薄膜是ITO薄膜的替代品,因为它们是低电阻薄膜。 作为透明导电膜的材料,它引起了人们的注意。因此,到目前为止,在我们的实验室中,已经向ZnO中添加了一些wt。%。 使用添加了Al的AZO烧结体靶,通过溅射法制作的AZO薄膜的检查 我去了。但是,不可能获得电阻率小于7×10〜(-4)cm的AZO薄膜。 另一方面,由于即使仅由ZnO材料构成的膜也可以得到低电阻的膜,因此ZnO系薄膜的导电特性良好。 它被认为是由氧空位带动的。由此,通常的AZO烧结体靶 如果可以生产比锌生产的膜含更多锌的膜,则AZO为5×10〜(-4)・ cm或更小 认为可以得到薄膜。

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