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ロール・ツー・ロール方式によるGZO透明導電膜のプラズマ支援堆積 (2)

机译:卷对卷法等离子辅助沉积GZO透明导电膜(2)

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摘要

Ⅱ-Ⅵ族化合物半導体である酸化亜鉛(ZnO)は、3.37 eVと広いバンドギャップを持ち、可視光領域において透明である。また、キャリア密度が高いため、抵抗率が低く、電気伝導性に優れている。我々の研究グループは、これまでに、低温・低損傷プロセスであるプラズマ支援分子線堆積(PAMBD)法を用いて、ロール・ツー・ロール(Roll-to-roll, RTR)方式によって形成した Ga 添加ZnO(GZO)透明導電膜の作製と評価を行ってきた。1) 今回の報告では、RTR方式によるGZO成膜プロセスの長時間安定性について検討した結果について報告を行う。
机译:作为II-VI族化合物半导体的氧化锌(ZnO)的带隙为3.37 eV,并且在可见光区域透明。此外,由于载流子密度高,所以电阻率低并且电导率优异。迄今为止,我们的研究小组已经通过采用等离子辅助分子束沉积(PAMBD)方法的卷对卷(RTR)方法形成了Ga的添加,这是一种低温,低损伤的工艺。评估ZnO(GZO)透明导电膜。 1)在本报告中,我们将报告使用RTR方法检查GZO成膜过程的长期稳定性的结果。

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