PEEMを用いたZnOナノロッドの電界放出特性評価

摘要

ZnOナノロッドの表面に電界をかけると、ロッドの先端で電界集中が起き、電界放出が起きやすくなる。この特性は電界放出ディスプレイへの応用が期待されている。しかしディスプレイとして応用する場合にはナノロッドアレイ(Fig1(A))が均一に電界応答して電子放出する必要あり、各部分ごとに区別して評価することが重要である。本講演ではその評価方法としてPEEM(光電子顕微鏡)を提案する。PEEMとは試料表面に強電界をかけ、紫外線を照射し、生じた光電子を加速、投影することで観察する手法である。よって電界放出により、ZnOナノロッドアレイ各部分からの電子放出をPEEMで直接観測できることが期待される。これにより、ZnOナノロッドアレイディスプレイの高効率化や劣化解析などに貢献できると考えられる。PEEMを用いてZnOナノロッドアレイの電界放出挙動が観察できるか調べることを目的として、研究を展開した。