様々な劣化環境におけるシリコーンゴムの劣化挙動の実験的解析(Ⅱ): 劣化が機械的特性および電気絶縁性に与える影響

摘要

熱劣化，熱·放射線同時劣化，水蒸気暴露を与えたSiRに対して，FT-MIR分光，IM,引張試験，複素誘電率測定を実施し，SiRの劣化に伴う高分子構造，機械的特性，電気絶縁性の変化について議論した。その結果，以下のような知見を獲得した。 (ⅰ)いずれの劣化条件においても，酸化によるシロキサン結合を介した架橘構造が形成される(ⅱ) 架橘構造が形成されると，EABをはじめとする機械的特性は低下するが，電荷の移動が妨げられるという点で，電気絶縁性は向上する。(ⅲ) (ⅰ), (ⅱ)より，SiRの劣化評価技術として，EABもしくは複素電気的モジュラスが優れ，初期の劣化を観測できる。