Negative bias temperature instability; Thermal variables control; Degradation; Logic gates; Transistors; Analog circuits; Mathematical model;
机译:NBTI在模拟电路中的退化和恢复:准确而高效的电路级建模
机译:一种片上传感器,用于测量和补偿模拟电路中由NBTI引起的静态退化
机译:NBTI降级及其对模拟电路可靠性的影响
机译:在结少的纳米线和新型操作方案的NBTI上,以最小化模拟电路中的NBTI劣化
机译:VLSI电路中的片上NBTI和栅极氧化物降解感应以及动态管理。
机译:NBTI降级及其对模拟电路可靠性的影响