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短パルスストライプ照明を用いた時空間周波数領域イメージングによる生体表層と深部の同時計測の基礎検討

机译:使用短脉冲条纹照明时空域成像的生物表面层和深度相同测量测量的基本研究

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摘要

生体の吸収係数と散乱係数などの光学パラメータを非侵襲でイメージングする技術としてSFDIとTRSがある.この2つの技術は深さについて制限があり,SFDIでは表層から4mm程度,TRSでは10数mm程度の光学特性を計測できる.我々は,短光パルスによるストライプ照明と時間分解CMOSイメージセンサを用いることでSFDIとTRSを組み合わせた時空間周波数領域イメージング法(STFDI)を提案する.STFDIによって表層から10mmを超える深さまで計測できるのが特徴である.原理検証実験として2層のシリコーンファントム用いて計測を行い,LUTを用いることで吸収係数と散乱係数,第1層の厚さを定量的に推定し,第2層の吸収係数と散乱係数の誤差率が7.5%以内という結果が得られた.
机译:有SFDI和TRS作为光学参数的非侵入性成像的技术,例如吸收系数和散射系数。这两种技术的深度有限,在SFDI中,大约4毫米的表面,我们可以测量约10毫米。光学特性。通过使用条纹照明和时间分辨的CMOS图像传感器,提出了一种时空域成像方法(STFDI),通过SFDI和TRS提出了SFDI和TRS。通过STFDI从表面层10毫米,其特征在于深度。基于原理验证实验,使用双层硅酮模型进行测量,并使用LUT,吸收系数,散射系数和第一层的厚度进行定量估计。吸收系数的结果第二层和散射系数的错误率为7.5%。

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