公开/公告号CN101963620B
专利类型发明专利
公开/公告日2015-11-25
原文格式PDF
申请/专利权人 GE传感与检测技术有限公司;
申请/专利号CN201010236738.X
申请日2010-07-23
分类号
代理机构中国专利代理(香港)有限公司;
代理人叶晓勇
地址 德国霍尔特
入库时间 2022-08-23 09:31:46
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2017-09-08
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N35/00 授权公告日:20151125 终止日期:20160723 申请日:20100723
专利权的终止
2015-11-25
授权
授权
2012-08-08
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N35/00 申请日:20100723
实质审查的生效
2011-02-02
公开
公开
机译: 通过X射线自动测试和/或测量多个基本相同的组件的系统和方法
机译: 用x射线自动测试和/或测量多个基本相同的零件的系统和方法
机译: 使用X射线辐射自动测试和/或测量多个基本相同的组件的方法和系统