Transistors; Logic gates; Silicon-on-insulator; Immune system; Inverters; Mathematical model; Threshold voltage;
机译:偏置,电源电压和温度对FDSOI技术中电阻短路缺陷检测的影响
机译:用于在过程变化存在下进行电阻短缺陷可检测性的分析模型:应用于28nm批量和FDSOI技术的应用
机译:使用精确的反转电荷密度模型在反偏压下提取短沟道UTBB-FDSOI MOSFET的迁移率
机译:vt和身体偏置对28nm UTBB FDSOI - LVT和RVT配置电阻短检测的影响
机译:天然选择在果蝇Melanogaster中:一种新的检测方法,对人口统计推理的影响,以及短期演变
机译:糖苷键构型对人类肠道菌群从模型可发酵碳水化合物生产短链脂肪酸的影响
机译:针对28nm UTBB FDSOI中的工艺和温度变化的阈值电压补偿