意図的な電磁妨害時にハードウェアトロイより引き起こされる情報漏えい評価に関する基礎検討

摘要

本稿ではICの周辺回路や配線に実装されたHTがIEMIの実行時に情報を漏えいさせる可能性について検討を行った。実験で用いたHTはMOSFETと短い配線からなる簡単な回路で構成され、容易に実装可能な回路とした。また、IEMIの実行時のみHTが動作し、機器内部の情報を印加した周波数で振幅変調した信号を外部へ放射することで情報の漏えいを生じさせることを確認した。