スマートデバイスからの電磁情報漏えい源特定に関する基礎検討

摘要

音声出力機能のあるスマートデバイスから電磁波を通じて音情報が漏えいする脅威が報告されている。電磁波を通じた音情報の漏えいを抑制するには、音情報を伝搬する周波数帯や音情報の漏えいを引き起こすデバイス部位を把握することが有用であるが、これまでこうした検討は十分なされてない。本稿では、漏えいを抑制するために必要となる基礎知見を与えるため、音声再生に関連するデバイスの構成部品から放射される電磁波を測定し、放射電磁界の強度に関する分布図を作成することで漏えい源となる部位を絞り込む。そして、分布図によって絞り込まれた範囲内に漏えい源があることを確認するため、特定した範囲内にある電子素子を取り出し、素子単体から放射される電磁波を測定し、AM復調することにより音情報の漏えい源を特定する。