Doping profiles; FinFETs; Ion implantation; Performance evaluation; Semiconductor process modeling; Three-dimensional displays; Doping; FinFETs; Ion implantation; Statistical variability;
机译:FinFET建模:使用FMM的3D MC仿真以及器件操作中的意外掺杂效应
机译:超陡逆行通道掺杂分布对扩展器件性能的影响
机译:具有精确量子校正功能的FinFET和FDSOI器件的3D蒙特卡洛仿真
机译:离子植入引入的3D FinFET掺杂曲线模拟及对装置性能的影响
机译:延伸横向掺杂突变对深亚微米器件性能的影响。
机译:使用仿真探索设备设计对外周静脉插管的学习和性能的影响
机译:FinFET建模:使用Fmm和无意掺杂对器件操作的3D mC仿真
机译:掺杂分布对BaRITT器件性能的影响。