Accuracy; CMOS integrated circuits; Calibration; Capacitors; Noise; Power dissipation; Preamplifiers; Analog-to-digital converter (ADC); calibration; mismatch; successive-approximation-register (SAR);
机译:0.7 V 12b 160ms / s 12.8fj / conv。 使用数字放大器技术的28nm CMOS的无校准管道-SAR ADC
机译:0.7 V 12b 160ms / s 12.8fj / conv。 使用数字放大器技术的28nm CMOS的无校准管道-SAR ADC
机译:具有粗略基准ADC加速度的SAR ADC的IRD数字本底校准
机译:具有数字校准的0.45MW 12B 12.5ms / S SAR ADC
机译:具有快速FPGA仿真功能的SAR ADC的后台数字校准。
机译:具有双极性数字校准的13位噪声整形SAR-ADC
机译:具有冗余和数字背景校准功能的12b 50ms / s 2.1mW saR aDC