Charge Pumping; Defects; High-k gate stack; PBTI; SILC;
机译:以高K介电层的导电机理为研究电活性缺陷的工具
机译:氧退火对以随机电报噪声为特征的高k栅堆叠缺陷的影响
机译:氧退火对以随机电报噪声为特征的高k栅堆叠缺陷的影响
机译:高k栅极堆叠中的电静态缺陷激活
机译:通过原子层沉积进行金属栅/高k电介质堆叠工程:材料问题和电性能。
机译:具有纳米堆叠的高k栅极电介质和3D鳍形结构的高性能III-V MOSFET
机译:考虑高k电介质堆中的传导机制作为研究电活性缺陷的工具