SRAM; aging; cache; hot carrier injection; microprocessor; modeling; negative bias temperature instability; positive bias temperature instability; reliability; timing analysis;
机译:偏置温度不稳定性和热载流子注入导致微处理器可靠性下降的系统级建模
机译:BTI和HCI引起的频率衰减对互连长度的依赖性及其电路电平含义
机译:EM和BTI引起的可靠性建模,分析和优化的最新进展(受邀)
机译:BTI和HCI引起的微处理器可靠性降解的系统级模型
机译:在BTI和TDDB降级的情况下提高微处理器的可靠性。
机译:基于回归模型和Copulas的考虑电池退化相关性的锂离子电池组可靠性建模方法
机译:在BTI和TDDB降级的情况下提高微处理器的可靠性