机译:使用NH3等离子体和微波退火改进了5nm HF0.5ZR0.5O2铁电技术中的TDDB可靠性和接口状态
机译:广泛评估Ingaas MOS栅极堆栈中的电荷捕获动力学,以便示范改进的BTI可靠性
机译:偏置温度不稳定性和热载流子注入导致微处理器可靠性下降的系统级建模
机译:由于BTI和HCI而导致的微处理器可靠性下降的系统级建模
机译:在BTI和TDDB降级的情况下提高微处理器的可靠性。
机译:在具有经罚截肢的成人中进行了四种平方步骤测试:两种类型的微处理器膝盖之间的测试 - 保持性可靠性和判别有效性
机译:在BTI和TDDB降级的情况下提高微处理器的可靠性
机译:可降解和不可降解系统的可靠性预测