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異なる結晶構造の下地層上に形成したエピタキシャルFePt合金薄膜の構造解析

机译:在具有不同晶体结构的底层上形成的外延FePt合金薄膜的结构分析

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摘要

FePt合金はc軸方向に6.6×10~7erg/cm~3の高いK_uを持ち,その薄膜は磁気記録媒体やMRAMなどへの応用に向けて研究されている.デバイス応用では磁化容易軸であるc軸の方位制御が重要となる.c軸方位は下地層の結晶構造や結晶方位によって変化する.本研究では,(001)もしくは(110)単結晶基板上にへテロエピタキシャル成長させたfcc,hcp,もしくはbcc構造を持つ金属下地層上にFePt膜を形成し,詳細な構造解析を行った.
机译:FePt合金在c轴方向的K_u值为​​6.6×10〜7erg / cm〜3,并且正在研究其薄膜在磁记录介质和MRAM等应用中的应用,C轴方向的控制非常重要。轴取向随底层的晶体结构和晶体取向而变化,本研究中,fcc和hcp在(001)或(110)单晶衬底上异质生长,或者在金属基底上形成FePt膜具有bcc结构的层,并进行了详细的结构分析。

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