atomic force microscopy; feedback; position control; bandwidth limitation; contact-mode atomic force microscopy; frequency 83 Hz to 2.7 kHz; high-speed vertical positioning; scanning probe microscopy; vertical feedback controller;
机译:高速接触模式原子力显微镜的性能增强
机译:紫色膜的接触模式高分辨率高速原子力显微镜电影。
机译:接触式原子力显微镜(AFM)的半自动定位系统
机译:接触模式原子力显微镜的高速垂直定位
机译:微悬臂的尖端位置的重构和控制以及相互作用力的动态传感,以实现高速和高分辨率的动态原子力显微镜。
机译:紫色膜的接触模式高分辨率高速原子力显微镜电影
机译:接触式原子力显微镜的高速垂直定位
机译:原子力显微镜和扫描隧道显微镜与组合原子力显微镜/扫描隧道显微镜