机译:AlGaN-GaN HEMT中陷阱相关效应的表征和分析
机译:采用不同的蚀刻后表面处理的常关型Al2O3 / AlGaN / GaN MOS-HEMT中的界面和边界俘获效应?
机译:表征和分析电陷阱对AlGaN / GaN HEMT可靠性的影响
机译:凹栅常关AlGaN / GaN基MOSHEMT中陷阱的描述及陷阱相关的影响
机译:Algan / Gan MoShemts诱捕效应研究
机译:凹入式栅极结构对具有薄AlOxNy MIS栅极的AlGaN / GaN-on-SiC MIS-HEMT的影响
机译:藻类/甘氨酸诱集作用的研究