Cu; Ru; Co; electromigration; resistivity;
机译:Cu(Al)和Cu(Mn)镶嵌线中的电迁移
机译:Cu(AI)和Cu(Mn)镶嵌线中的电迁移
机译:Cu_3Sn涂层对铜双大马士革互连线电迁移寿命提高的影响
机译:片上Cu,Co和Ru镶嵌纳米线的电迁移和电阻率
机译:电迁移增强了无铅焊点中铜-锡金属间化合物的动力学,并使用分步和闪光压印光刻技术进行了铜低k双大马士革工艺。
机译:单根Cu:7788-四氰基对二甲烷纳米线中的持续电阻切换:用于电阻随机存取存储器的有前途的材料
机译:大马士革铜互连线电迁移损伤的取向和微观结构依赖性