High-voltage; P-type LDMOS; Charge pumping; Hot carrier; STI; NBTI;
机译:高压p型LDMOS晶体管中热载流子引起的阈值电压漂移的机制
机译:两级热载流子引起的p型LDMOS晶体管的退化
机译:具有厚栅氧化物的p型对称LDMOS晶体管的热载流子降解机理
机译:p型高压LDMOS晶体管中的热载流子应力退化模式
机译:LDMOS晶体管上的热载流子效应。
机译:基于P型伪垂直金刚石肖特基势垒二极管正向电流-电压特性的迁移模型
机译:由于电离辐射和热载流子应力,对双极结型晶体管的增益衰减进行建模。
机译:双极晶体管中热载流子应力与电离诱导退化的相关性