III-V semiconductors; annealing; gallium arsenide; gallium compounds; indium compounds; integrated optics; integrated optoelectronics; membranes; photoluminescence; semiconductor quantum wells; silicon-on-insulator; spectral line breadth; wafer bonding; 300 to 450 de;
机译:绝缘体上硅衬底上GaInAsP / InP膜结构的直接晶圆键合
机译:硅片粘接制备的Si衬底上横向注入GaInAsP / InP膜分布反馈激光器的初步可靠性测试
机译:等离子辅助InP / Al2O3 / SOI直接晶圆键合中亲水键合界面上的氧化物形成
机译:引脚/ INP膜结构在SOI晶片上的直接键合
机译:用于量子盒激光器的GaInAsP / InP有机金属气相外延(OMVPE)
机译:金膜厚度和表面粗糙度对室温晶圆键合和金-金表面活化键合的晶圆级真空密封的影响
机译:等离子体辅助Inp / al2O3 / sOI直接晶圆键合中亲水键合界面上的氧化物形成
机译:GaInasp / Inp质量传输激光器的晶圆测试