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【24h】

Hot carrier generation and reliability of BT(body-tied)-fin type SRAM cell transistors (W/sub fin/=20~70nm)

机译：BT鳍式SRAM单元晶体管（W / sub fin / = 20〜70nm）的热载流子产生和可靠性

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《Reliability Physics Symposium, 2005. Proceedings. 43rd Annual. 2005 IEEE International》|2005年|P.352-355|共4页
会议地点
作者
Young Jomi Ahn; Hye Jin Cho; Hee Soo Kang; Choong-Ho Lee; Choi Lee; Jac-man Yoon; Tac Yong Kim; Eno Suk Cho; Suk-Kang Sung; Donggun Park; Kinam Kim; Byung-Il Ryu;
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中图分类工业技术;
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