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【24h】

Neutron-induced SEU in bulk and SOI SRAMS in terrestrial environment

机译:地球环境中散装的中子诱发的SEU和SOI SRAMS

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摘要

In this work we compare the Soft Error Rate (SER) sensitivity of commercial bulk and SOI devices in the terrestrial neutron environment. The SOI parts exhibit very low SER values that we explain by using Monte Carlo simulations.
机译:在这项工作中,我们比较了在地面中子环境中商用散装和SOI设备的软错误率(SER)灵敏度。 SOI零件显示出非常低的SER值,我们通过使用蒙特卡洛仿真来解释。

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