indium compounds; III-V semiconductors; heterojunction bipolar transistors; current density; temperature measurement; thermal analysis; semiconductor device measurement; thermal resistance measurement; characterization method; measurement method; dif;
机译:AlGaAs / GaAs异质结双极晶体管的热阻测量
机译:在重掺杂InP发射极层上具有低电阻触点的InP / InGaAs异质结双极晶体管
机译:使用1μmInP / InGaAs / InP双异质结双极晶体管的面向高比特率测量系统的低抖动113Gbit / s 2:1多路复用器和1:2解复用器模块
机译:Inp异质结双极晶体管的非线性温升和热阻的表征和测量
机译:基于N沟道InGaAsP-InP的倒置通道技术器件(ICT)的设计,制造和表征,用于光电集成电路(OEIC):双异质结光电开关(DOES),异质结场效应晶体管(HFET),双极倒置沟道场-效应晶体管(BICFET)和双极型反向沟道光电晶体管(BICPT)。
机译:用于高效光伏转换的三端异质结双极晶体管太阳能电池
机译:使用InP-GaAsSb-InP双异质结双极晶体管测量磷化铟的电子引发的碰撞电离系数
机译:作为温度梯度结果的无涂层si微波晶体管热阻测量误差估算