机译:本地寿命控制IGBT结构在1200V沟槽与新型平面PT-IGBT之间进行硬和软切换时的关断性能比较
机译:1200 V穿通IGBT结构的系统硬,软开关性能评估
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机译:用于硬度和软切换性能的平面和沟槽IGBT的评估
机译:沟槽栅穿通IGBT的特性和建模。
机译:新型平面电磁传感器:建模和性能评估
机译:沟槽屏蔽平面栅极IGBT(TSPG-IGBT),具有自偏置PMOS,实现低导通状态电压和低饱和电流
机译:E区沟槽沟性能评估的含水层源节点位置选择评价