机译:光学光掩模中的图案转印变形
机译:光掩模制造的化学放大抗蚀剂过程中界面效应的理论研究
机译:勘误表:电子束光刻扫描扫描中的分辨率,线边缘粗糙度与敏感性的权衡关系的理论研究'[JPN。 J. Appl。 物理。 58,076501(2019)]
机译:软膜框的曲率和安装过程对高级光掩模中膜层诱发的畸变的影响
机译:防护膜引起的薄膜变形的数值和实验分析。
机译:无光罩直接选择化学沉积通过控制表面亲水性在玻璃上
机译:评估金属碲化物的稳定性作为极端紫外线光刻的替代光掩模材料
机译:使用电荷感应电压改变定位薄膜诱导的开路触点。