机译:Sn-3Ag-0.5Cu和Sn-3Ag-0.5Cu-0.05Ce锡球网格阵列封装的晶须生长和疲劳可靠性评估
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机译:芯片级封装(细间距球栅阵列)的板级跌落可靠性的影响因素评估
机译:可靠性和湿度敏感性评估为225针,2层包覆成型(OMPac)球栅阵列包装
机译:锡铅和SAC组件中经过重新焊锡和重新加工的球栅阵列封装的温度循环可靠性。
机译:启示长期功能:在完全集成的完全无线100信道犹他州斜阵列电极的包装和封装可靠性(UsEa)的评价
机译:冲击弯曲试验的球栅阵列型包装中焊点的可靠性评估