Cathodes; Carbon nanotubes; Vacuum technology; Integrated circuit reliability; Reliability engineering; Strain;
机译:使用1.2-MV场发射透射电子显微镜,采用不对称双切口的干扰实验
机译:三重巧合实验研究碰撞引起的双电子损失中的相关电子发射吗?
机译:场发射透射电子显微镜研究Sn-Ag-Cu合金与非晶态Pd(P)薄膜在微电子包装中的反应顺序
机译:双电网的实验研究,提升现场发射中的电子传输
机译:使用共形映射研究几何场增强和电子场发射。
机译:1.2-MV场发射透射电子显微镜对非对称双缝干涉实验
机译:三重巧合实验,研究碰撞诱导的双电子损失中的相关电子发射 -