Silicon; Optical imaging; Optical sensors; Optical filters; Etching; Photoluminescence;
机译:用于硅中掩埋缺陷检测的光致发光成像:评估和使用案例
机译:4H-SiC VDMOS晶体管浅坑和装置设计对光致发光和差分干扰对比度映射的线缺陷分析的影响
机译:飞秒激光脉冲打孔期间使用LIBS检测硅器件中的埋层
机译:硅装置中的在线埋地缺陷检测的光致发光
机译:使用光致发光光谱法研究N型4H碳化硅和半绝缘6H碳化硅中的缺陷。
机译:通过缺陷工程强烈增强碳氧化硅的光致发光
机译:半导体器件中埋地缺陷的电子束检测