Performance evaluation; MOSFET; Silicon carbide; Switches; Logic gates; Integrated circuit reliability; Switching circuits;
机译:栅极开关操作下的SIC-MOSFET中的TDDB寿命增强
机译:门驱动技术评估和开发,以最大化硬件开关应用中SIC离散设备和电源模块的开关速度
机译:极端短路操作中的平面和沟槽功率SiC MOSFET器件的栅极泄漏电流分析和建模
机译:与栅极驱动器复杂度相关的商用SiC功率器件(SiC JFET和SiC MOSFET)的开关性能评估
机译:用于开关变换器的SiC功率半导体器件的建模和损耗分析
机译:低功耗非易失性器件应用中还原氧化石墨烯存储单元的电阻切换行为
机译:SiC / GaN功率半导体器件:不同开关条件下的理论比较和实验评估