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【24h】

A Defect Inspection Method for TFT panel using the Compute Unified Device Architecture (CUDA)

机译:使用计算统一设备架构的TFT面板缺陷检测方法(CUDA)

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摘要

In this paper, a parallel algorithm to inspect defects of thin film transistor liquid crystal displays (TFT-LCD) panel is presented. The algorithm is implemented on a graphics processing unit (GPU) using the compute unified device architecture (CUDA) development environment. The result shows better performance compared to the one implemented on a CPU.
机译:本文介绍了一种与薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)面板检查缺陷的并行算法。该算法在图形处理单元(GPU)上使用Compute Unified Device架构(CUDA)开发环境来实现。与CPU上实现的那个结果相比,结果表现出更好的性能。

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